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        上海伊豐精密儀器有限公司


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        菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺式X射線熒光涂層測厚儀

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        商鋪產(chǎn)品:85條

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        產(chǎn)品簡介

        菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺式X射線熒光涂層測厚儀 憑借電機驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇.適合的 X 射線儀器。

        詳細介紹

        特性:

        • X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務
        • 由于測量距離可以調(diào)節(jié)(.大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
        • 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試
        • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)

        應用:

        鍍層厚度測量

        • 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
        • 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
        • 復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
        • 鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
        • 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

        材料分析

        • 電鍍槽液分析
        • 電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析

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